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III-V族LED芯片测试与3D形貌
LED chip and 3D profile
发布时间:[2016年04月18日] 点击次数:[]
III-V族LED芯片用白光干涉作粗糙度、深度分布、台阶高度测试。
III-V族LED芯片用白光干涉真彩色编码深度精细结构图。
III-V族LED芯片重构3D形貌图。
南京一个大学的LED little芯片，白光干涉图。
测试芯片精细结构的尺寸、深度、高低分布。
根据测试数据，恢复LED little芯片3D形貌图
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